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分享:超声相控阵成像检测仪自校准规程(自检规程)【2】

文摘:本文《超声相控阵仪器自校与自验方法》适用于各企业单位的超声相控阵仪器定期的自校和自验。各企业单位视情况参考该自校与自验方法,但不代表该方法的内容完全正确。

1目的
为保证我单位相控阵成像检测仪精度,确保检验结果的准确可靠,特制订本规程。
2适用范围
本规程适用于我单位的ISONIC2009型便携式相控阵成像检测仪的自校准。
3人员职责
由设备使用人员按本规程进行校准,填写《设备自校准记录》,设备责任工程师审核,技术负责人批准。
4校准周期
校准周期:每12个月一次。如出现仪器维修或在使用过程中,对仪器的技术指标产生怀疑时,应立即进行自校准。
5检测所需标准器具
被检仪器、相控阵探头、标准试块(相控阵A型试块、相控阵B型试块)、连接线、耦合剂(选用机油)等。
6校准方法
6.1扇扫成像横向分辨力校验
将探头放置在试块A中A-1区一系列通孔的下端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现扇形扫查,确保A-1区中的人工缺陷都在显示区域中,成像中所能分开的最小间距即为该工作状态下的成像横向分辨力。
6.2扇扫成像纵向分辨力校验
将探头放置在试块A中A-2区一系列通孔的上端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现扇形扫查,确保A-2区中的同一组人工缺陷都在显示区域中,成像中所能分开的最小间距即为该工作状态下的成像纵向分辨力。
6.3短缺陷分辨力校验
将探头放置在试块A中A-3区一系列人工缺陷的下端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现扫查成像,图像中所能清晰显示的最小长度的人工缺陷的长度即为该设备对短缺陷的分辨力。
6.4成像横向几何尺寸测量误差
将探头放置在试块B中B-1区一系列通孔的左端面及B-2区一系列通孔的下端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现线性扫查或扇形扫查得到清晰图像。
在图像上,依次选择不同孔图像的中心并进行横向间距测量,读取不同孔图像之间的横向距离测量值。用试块上该两孔之间的标称值减去测量值,即为设备对该两个孔横向几何尺寸测量的误差。
6.5成像纵向几何尺寸测量误差
将探头放置在试块B中B-1区一系列通孔的下端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现线性扫查或扇形扫查得到清晰图像。
在图像上,依次选择不同孔图像的中心并进行纵向间距测量,读取不同孔图像之间的纵向距离测量值。用试块上该两孔之间的标称值减去测量值,即为设备对该两个孔纵向几何尺寸测量的误差。
6.6扇扫角度分辨力
将探头放置在试块B中B-3区一系列通孔的上端面,在探头与试块表面之间涂敷机油,并施加一定的压力确保良好耦合,调节设备实现扇形扫查。图像中所能分开的最小角度间距即为该工作状态下的扇扫角度分辨力。

7结果及处理
填写附录的设备自校准记录,给出自校准结论,并相关人员签名。
8相关表格
8.1《设备自校准记录》


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