曹智的无损检测博客
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当所在类目:TOFD数据分析

技术知识

TOFD直通波去除操作方法及原理

由于TOFD技术存在扫查面(上表面)盲区,当埋藏型缺陷离扫查面较近时,直通波图像有可能将缺陷的一部分或全部遮盖,使得缺陷类型判断出现失误,甚至无法发现缺陷。 这种情况可用图谱分析软件的直通波去除功能加以改善。直通波去除操作一般针对需要去除的...

案例经验

南通友联TOFD仪器数据离线分析方法

1.1在离线分析软件中使用光标的方法 在电脑上打开离线分析软件,利用“打开文件”功能选择需要分析的TOFD图谱; 移动十字光标的方法有三种,第一种是用鼠标定点,在图谱上双击鼠标左键,红色十字光标和抛物线光标会出现在鼠标箭头所在位置,双击鼠标...

案例经验

TOFD检测十字光标与抛物线光标介绍

光标是分析TOFD图谱时必不可少的辅助工具,其作用主要有: 1、提取图谱中的A扫信号供图谱分析软件显示、供图谱分析人员观察; 2、指定图谱中的采样点,以便图谱分析软件显示该点包含的数据信息; 3、作为位置标识,辅助图谱分析人员测量缺陷的位置...