曹智的无损检测博客
探索无损检测技术的专业知识与实践经验

TOFD直通波去除操作方法及原理

由于TOFD技术存在扫查面(上表面)盲区,当埋藏型缺陷离扫查面较近时,直通波图像有可能将缺陷的一部分或全部遮盖,使得缺陷类型判断出现失误,甚至无法发现缺陷。

这种情况可用图谱分析软件的直通波去除功能加以改善。直通波去除操作一般针对需要去除的一段直通波图像进行处理,在离线分析软件打开图谱后,在软件的“编辑”菜单中选择“去直通波”选项,利用鼠标框选需要去除的直通波段,即可将该框选范围内的直通波去除。

去除直通波的原理是选取一个参考直通波数据,将整段需要去除的直通波数据都减去参考的数据,是一种差分操作,因此在使用这一功能时,参考直通波数据的选取在很大程度上决定了处理效果。一般以框选图像时方框起始位置的数据作为参考数据,因此在使用这一功能时,一定要在直通波良好的位置开始框选图形。

此外,当直通波波幅超出A扫窗口屏幕时,去除直通波操作可能会得出错误的结果,因此在进行TOFD扫查,采集回波信号时,仪器灵敏度不应该调得太高,以尽量避免直通波波幅高于屏幕高度100%的情况发生。


  • 博主:曹智
  • 个人资质: 特种设备UT-III、RT-III、MT-III、PT-III、PA-II、TOFD-II
  • 原创说明:如需转载本站原创文章请联系博主!未经允许转载,将追究其责任!

关注「NDT新思想」公众号,更多干货等你来!

曹智的无损检测博客-官方微信公众号“NDT新思想”
分享到:更多 ()

评论 抢沙发

评论前必须登录!